可靠性=口碑:电子配件的 HALT/HASS 与售后数据闭环

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一、HALT(高度加速寿命探索):在样机阶段用温度-40~+120℃、加速度 5–25grms、步进 5℃/2grms 叠加应力,找出薄弱环节(焊点、端子、壳体、应力释放)。
二、设计改进:依据失效模式(如焊点虚焊、端子松脱、外壳开裂)迭代结构、材料与工艺;对风险点进行 FMEA。
三、HASS(筛选):量产阶段以较低应力对每批次进行筛选,剔除早期失效品;参数来自 HALT 的“破坏阈值的 70–80%”。
四、寿命与场景试验:插拔、弯折、盐雾、滚筒跌落、车载温循与震动;将“任务轮廓”贴近客户真实使用(如每日插拔 50 次/弯折 200 次/车内高温 65℃)。
五、售后闭环:RMA 机拆解与 8D 报告;对“高频异常”建立 看板,和工艺/供应链共享;重要指标如 FPY、DPPM、MTBF、RMA率 持续展示。
六、价值:可靠性直接决定复购与评价。把“数据”而非“感觉”写进产品生命周期,才是真正的降本增效。
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